贵金属执行标准
常用珠宝首饰相关标准我国标准分为国家标准、行业标准、地方标准和企业标准，又分为强制性标准和推荐性标准，标准编码的组成为：标准代号+标准顺序号+批准年号。
| 国家、行业、地方标准代号 | ||
| 标准层次 | 强制性标准 | 推荐性标准 |
| 国家标准 | GB | GB/T |
| 轻工行业标准 | QB | QB/T |
| 地方标准 | DB | DB/T |
| 企业标准 | Q/企业代号 | |
| 贵金属执行标准 | |||
| 标准号 | 名称 | 适用范围 | 实施日期 |
| GB 11887-2012 | 首饰 贵金属纯度的规定及命名方法 |
本标准规定了首饰中贵金属的纯度范围、印记、测定方法和贵金属首饰的命名方法。 本标准适用于首饰行业和国内生产及销售的贵金属首饰。贵金属摆件参照执行。 |
2013-05-01 |
| GB/T18043-2013 | 贵金属首饰含量无损检验方法-X射线荧光光谱法 |
本标准规定了应用X射线荧光光谱测定首饰中贵金属含量的方法及要求。 本标准适用于首饰和其他工艺品的定性分析及其中的贵金属（金、银、铂、钯）含量的筛选检测。 |
2014-03-01 |
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QB/T 2062-2006 |
贵金属饰品 |
本标准规定了贵金属饰品（以下简称饰品）的分类、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于金、银、铂、钯等贵金属及其合金制成的首饰，也适用于贵金属及其合金制成的工艺品及摆件。 |
2006-12-01 |
| DB44/495-2008 |
贵金属饰品 标注方法 |
本标准规定了贵金属及贵金属镶嵌饰品（包括首饰和工艺品）的产品标识的基本要求和标注方法。本标准适用于贵金属及贵金属镶嵌饰品标识标注。 |
2008-10-01 |
| GB/T 28020-2011 |
饰品 有害元素的测定 X射线荧光光谱法 |
本标准规定了饰品中有害元素的X射线荧光光谱检测方法。 本标准适用于各种材质的饰品（珠宝玉石除外）表层中有害元素的检测。 |
2012-02-01 |
| GB/T28021-2011 |
饰品 有害元素的测定 光谱法 |
本标准规定了饰品中有害元素的含量及溶出量的光谱测定方法。本标准适用于饰品中有害元素的含量及溶出量的测定。 | 2012-02-01 |
| GB28480-2012 |
饰品 有害元素限量的规定 |
本标准规定了饰品中有害元素的种类及其限量。本标准适用于各种材质的饰品(玉石除外) | 2013-05-01 |
| GB/T19719-2005 |
首饰 镍释放量的测定 光谱法 |
本标准规定了首饰中镍的释放量的测试方法，以测定该样品镍的释放量是否大于0.5μg/(cm²·week)。本标准适用于GB11887-2002中4.3.2所规定的含镍首饰镍释放量的测试，也适用于长期接触人体皮肤的制品。 | 2005-09-01 |
| QB/T 1690-2004 | 贵金属饰品质量测量允差的规定 | 本标准规定了金、银、铂、钯饰品及材料质量测量允差的要求、试验方法和标志。本标准适用于以质量结算的金、银、铂、钯饰品及材料的贸易。 | 2005-01-01 |
| GB/T1423-1996 | 贵金属及其合金密度的测试方法 | 本标准规定了贵金属及其合金材料室温密度的测定方法。本标准适用于贵金属及其合金材料室温密度的测定。其他金属及合金材料以及部分非金属固体材料亦可参照使用。本标准不适用于粉末材料及多孔材料密度的测定。 | 1997-04-01 |
| QB1131-2005 |
首饰 金覆盖层厚度的规定 |
本标准规定了首饰制品金覆盖层厚度的术语和定义、要求、检验方法和标识。本标准适用于非金基体的首饰制品。 | 2006-05-01 |
| QB1132-2005 |
首饰 银覆盖层厚度的规定 |
本标准规定了首饰制品银覆盖层厚度的术语和定义、要求、检验方法和标识。本标准适用于非银基体的首饰制品。 | 2006-05-01 |
| QB/T1135-2006 |
首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法 |
本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。本标准适用于首饰及其它工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)。注：本方法测定的覆盖层厚度相当于足金或足银的厚度，可根据实际金、银覆盖层含量进行折算。 | 2006-12-01 |
| QB/T2997-2008 | 贵金属覆盖层饰品 | 本标准规定了贵金属覆盖层饰品的术语和定义、要求、试验方法标志、包装、运输、贮存。本标准适用于除贵金属(金、银、铂、钯、铑等)以外的各类金属为基材制作的金覆盖层系列、银覆盖层系列和铑覆盖层系列等饰品。以非金属为基材的贵金属覆盖层饰品可参照本标准执行。 | 2008-12-01 |
| GB/T17832-2008 |
银合金首饰 银含量的测定 溴化钾容量法 (电位滴定法) |
本标准规定了采用溴化钾容量法(电位滴定法)测定银合金首饰中的银含量。本标准适用于银含量800‰~990‰的银合金首饰、工艺品及其材料。本标准被GB11887指定为银首饰中银含量测定的仲裁方法。 注：银合金中可以含有铜、锌、镉和钯，这些元素除钯必须在滴定前先沉淀分离外，其余元素的存在不会干扰本测定方法。 |
2009-07-01 |
| GB/T 9288-2006 |
金合金首饰 金含量的测定灰吹法（火试金法） |
本标准规定了采用灰吹法（火试金法）测定金合金首饰中含金量的方法。 本标准适用于金含量在333.0‰~999.5‰的各种金和K金首饰（不含铂、铑等不溶于硝酸的成分）的金含量的测定。 本标准被GB 11887指定为金合金首饰中金含量分析的仲裁方法。 |
2006-10-01 |
| GB/T601-2002 | 化学试剂标准滴定溶液的制备 | 本标准规定了化学试剂标准滴定溶液的配制和标定方法。本标准适用于制备准确浓度的标准滴定溶液，以供滴定法测定化学试剂的纯度及杂质含量，也可供其他行业选用。 | 2003-04-01 |
| GB/T602-2002 | 化学试剂 杂质测定用标准溶液的制备 | 本标准规定了化学试剂杂质测定用标准溶液的制备方法。本标准适用于制备单位容积内含有准确数量物质(元素、离子或分子)的溶液，适用于化学试剂中杂质的测定，也可供其他行业选用。 | 2003-04-01 |
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GB/T603-2002 |
化学试剂 试验方法中所用制剂及制品的制备 |
本标准规定了化学试剂试验方法中所用制剂及制品的制备方法。本标准适用于化学试剂分析中所需制剂及制品的制备，也可供其他行业选用。 | 2003-04-01 |
| GB/T6682-2008 | 分析实验室用水规格和试验方法 | 本标准规定了分析实验室用水的级别、规格、取样及贮存、试验方法和试验报告。本标准适用于化学分析和无机痕量分析等试验用水。可根据实际工作需要选用不同级别的水。 | 2008-11-01 |
| GB/T22554-2010 | 基于标准样品的线性校准 |
本标准规定了测量系统的校准以及被校准测量系统维持在统计受控状态的通用原则。本标准规定了用于以下目的的基本方法： a)测量变异性两种假定下线性校准函数的估计；b)校准函数线性性和测量变异性假定的检验；c)被测值基于校准函数变化后的新未知量的估计。 本标准给出了校准函数使用周期的控制方法，用于： a)检验校准函数何时需要更新； b)通过校准函数变换后被测值的不确定度评估。 本标准规定了特定条件下基本方法的两种替代方法，给出了基本方法和控制方法的示例。 本标准适用于可获取标准样品的测量系统及假定线性校准函数的测量系统，并提供了检验线性假定的方法。 本标准不适用于已知校准函数呈非线性情况，除非使用8.3描述的“夹逼技术”。 本标准不区分各种类型的标准样品，并认为测量系统校准所用标准样品的接受值不存在误差。 |
2011-04-01 |
| GB/T16597-1996 |
冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则 |
本标准规定了用X射线荧光光谱法进行元素定量分析的一般事项，包括所涉及的常用术语、基本原理、仪器、样品处理、定量分析等，供以X射线管作激发源的波长色散X射线荧光光谱仪使用。 本标准适用于制(修)订冶金产品的X射线荧光光谱法国家标准或行业标准，其他标准也可参照使用。 |
1997-04-01 |
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GB/T 16921-2005 ISO3497：2000 |
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 |
本标准规定了应用X射线光谱方法测量金属覆盖层厚度的方法。 本标准所用的测量方法基本属于测定单位面积质量的一种方法。如果已知覆盖层材料的密度，则测量结果也可以用覆盖层的线性厚度表示。 本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。 给定覆盖层材料的实际测量范围主要取决于被分析的特征X射线荧光的能量以及所允许的测量不确定度，而且因所用的仪器设备和操作规程而不同。 |
2006-04-01 |
| QB/T2630.1-2004 |
金饰工艺画 第1部分：金膜画金层 |
本部分规定了金膜画金层的要求和试验方法。 本部分适用于在金膜上印刷各种文字、图案、书画、照片等金膜画的金层。 |
2005-01-01 |
| QB/T2630.2-2004 |
金饰工艺画 第2部分：金箔画金层 |
本部分规定了金箔画金层的要求和试验方法。 本部分适用于金箔画的生产和检验。其他贴金胶片工艺品可参照执行。 |
2005-01-01 |
| QB/T2631.1-2004 |
金饰工艺画 金层含金量与厚度测定 ICP光谱法 第1部分：金膜画 |
本部分规定了金膜画金层含金量与厚度的测定方法。 本部分适用于QB/T2630.1《金饰工艺画 第1部分：金膜画金层》所规定的金层含金量与厚度的测定，也适用于在金膜上印刷各种文字、图案等制品金层的测试。 |
2005-01-01 |
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QB/T2631.2-2004 |
金饰工艺画 金层含金量与厚度测定 ICP光谱法 第2部分：金箔画 |
本部分规定了金箔画金层含金量与厚度的测定方法。 本部分适用于QB/T2630.2《金饰工艺画 第2部分：金箔画金层》所规定的金层含金量与厚度的测定。其他贴金胶片工艺品测定可参照执行。 |
2005-01-01 |
| GB/T21198.4-2007 |
贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第4部分：999‰贵金属合金首饰 贵金属含量的测定 差减法 |
GB/T21198的本部分规定了通过测定999‰的贵金属合金首饰中的杂质元素含量来确定铂合金首饰中的铂含量，钯合金首饰中的钯含量，金合金首饰中的金含量的方法。 本部分适用于含量为999‰的贵金属合金首饰。注：首饰中可含铂、钯、金、铋、镉、钴、铜、铁、铱、镍、铅、铑、钌、锡、钛和锌。 |
2008-07-01 |
| GB/T21198.5-2007 |
贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第5部分：999‰银合金首饰 银含量的测定 差减法 |
GB/T21198的部分规定了通过测定999‰银合金首饰中的杂质元素含量来确定银含量的方法。 本部分适用于银含量为999‰的银合金首饰。注：首饰中可含铂、钯、金、铋、镉、钴、铜、铁、铱、镍、铅、铑、钌、锡、钛和锌。 |
2008-07-01 |
| GB/T21198.6-2007 |
贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第6部分：差减法 |
GB/T21198的本部分规定通过测定金、铂、钯合金首饰中杂质元素含量来确定贵金属含量的方法。 本部分适用于GB11887所确定的金、铂、钯首饰纯度范围，其中金含量为725‰~999‰，铂量为800‰~999‰，钯含量为800‰~999‰。注：首饰中可含铂、金、钯、银、铜、镍、钴、铁、锌、镉、钌、铑和铱等元素。 |
2008-07-01 |
